事業紹介
サンプル測定
テラヘルツ波は、ゴム・セラミック・樹脂などの不透明材料への透過性が高く、新しい検査手法として期待されています。
これまでに様々なサンプルを測定した専門家が、豊富な経験をもとに技術的な検証や考察を行い、お客様の課題解決をお手伝いします。また、テラヘルツ分光によるスペクトル測定も承っております。
| 1 | お問い合わせ |
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| 2 | サンプル調整・ 見積提出 |
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| 3 | サンプル測定 |
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| 4 | 報告書納品 |
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テラヘルツイメージング
テラヘルツイメージングシステムでサンプルを測定し、欠陥や異常などの検査可否の評価を行います。製品内部の異物や気泡、層状製品の剥離や厚み、樹脂材料の劣化などの検査可能性を検証します。弊社のサンプル測定の中で、最も標準的な測定となります。
| 錠剤内部の樹脂異物検査 従来の検査装置では、難しいとされていた樹脂異物が検出されます。 |
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| 医療機器の毛髪検査 目視では確認できない隙間に隠れた毛髪が、可視化されます。 |
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使用システム：テラヘルツイメージングシステム
テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)
テラヘルツ時間領域分光システムを使用し、透過率、吸光度、複素屈折率、複素誘電率といった物性値の測定を行います。サンプルにもよりますが、測定できる帯域の目安は0.1～1.5THzまでです。1.5THz以上の帯域での測定をご要望のお客様は、別途ご相談ください。
| THz-TDSシステム 光源・検出器の間にサンプルを配置し、物性値の測定を行います。 |
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使用システム：テラヘルツ分光システム
出張測定
テラヘルツシステムを持参し、出張測定を行います。出張測定には、装置構成や測定速度、測定可否を確かめるための予備検討が必要です。そのため、サンプル測定、装置見学を実施済みのお客様が対象になります。
| 出張測定例 美術館、研究所で文化財の測定を行った時の様子です。 |
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その他 特殊測定
上記で紹介した標準システムで対応できない要望には、専用の光学系での測定を提案します。弊社が過去培ってきた経験をもとに、最適な測定システムを迅速に提案させていただきます。他社様では対応が難しい測定にも柔軟に対応いたします。遠慮なくご相談ください。
| 偏光測定システム 偏光を利用し、物質の異方的な変化を測定します。 |
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エリプソメトリ 入射角に依存する反射特性の変化を測定します。 |
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| 斜入射イメージング 垂直入射では検出が難しい欠陥の検査を行います。 |  |
テラヘルツ波で測定できるサンプルの条件は、テラヘルツ波を透過することです。テラヘルツ波は半導体、樹脂、ゴム、セラミックなどに対し高い透過性を示すことが知られています。一方、金属、水分に対してはテラヘルツ波が透過しないため測定ができません。サンプルのテラヘルツ波の透過試験は無償で承っております。
また、サイズ10cm×10cm程度のサンプルが測定には適していますが、より大きなサンプル測定も可能です。
詳細はサンプルによって異なりますので、サンプルの素材や厚み、大きさなどを遠慮なくご相談ください。弊社スタッフより詳細を返答いたします。
| 測定可能サンプル | 半導体、樹脂、ゴム、セラミック、紙、木材など |
| 検出対象物 | 空隙、異物、厚みなど |
| 測定が難しいサンプル | 金属製品、金属に覆われている製品、水分が多い製品 |
| サイズ | 10cm×10cm |
| 厚み | 数cm以下（テラヘルツ波の透過性による） |
| 形状 | 平板 |
※上記は目安ですので、詳細に関しましてはご相談ください。
費用は、以下の条件をもとに見積もらせていただきます。
・難易度（検出、計測したい目標物）
・サンプルの数
・サンプルの形状（円筒形状、複雑な凸凹）
一例として、以下の測定で25万円～となります。
| サンプル | 樹脂平板 |
| サイズ | 10cm×10cm |
| 検出対象物 | 気泡・剥離 |
| 個数 | 正常品、異常品 各１個 |
| 納品物 | 考察、今後の展望、画像データなどをまとめた報告書 |
サンプルのテラヘルツ波の透過試験は無償で承っております。お気軽にご相談ください。
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