事業紹介
サンプル測定
テラヘルツ波は、ゴム・セラミック・樹脂などの不透明材料への透過性が高く、新しい検査手法として期待されています。
これまでに様々なサンプルを測定した専門家が、豊富な経験をもとに技術的な検証や考察を行い、お客様の課題解決をお手伝いします。また、テラヘルツ分光によるスペクトル測定も承っております。
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お問い合わせ |
- メール・電話でお問い合わせください。
- サンプルの素材・構造・サイズ、検査目標物などを相談いただければ、弊社スタッフより測定可否や見込みを返答いたします。
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サンプル調整・
見積提出 |
- サンプルや課題をお伺いし、実施内容を調整します。
- これまでの経験に基づき、専門スタッフがサンプルの作成条件、解析方法、測定方法などを提案します。
- お見積もりを提出します。
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サンプル測定 |
- 支給されたサンプルをテラヘルツシステムで測定します。
- 専門スタッフが、装置設定・配置条件などを決定します。
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報告書納品 |
- 報告書を提出します。
- 様々な企業や研究所から測定を受託してきた知見を活かし、総合的な考察や今後の展望を報告書にまとめます。
- 報告書に使用したグラフや画像データなども提供可能です。
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テラヘルツイメージング
テラヘルツイメージングシステムでサンプルを測定し、欠陥や異常などの検査可否の評価を行います。製品内部の異物や気泡、層状製品の剥離や厚み、樹脂材料の劣化などの検査可能性を検証します。弊社のサンプル測定の中で、最も標準的な測定となります。
テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)
テラヘルツ時間領域分光システムを使用し、透過率、吸光度、複素屈折率、複素誘電率といった物性値の測定を行います。サンプルにもよりますが、測定できる帯域の目安は0.1～1.5THzまでです。1.5THz以上の帯域での測定をご要望のお客様は、別途ご相談ください。
THz-TDSシステム
光源・検出器の間にサンプルを配置し、物性値の測定を行います。 |
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使用システム：テラヘルツ分光システム
出張測定
テラヘルツシステムを持参し、出張測定を行います。出張測定には、装置構成や測定速度、測定可否を確かめるための予備検討が必要です。そのため、サンプル測定、装置見学を実施済みのお客様が対象になります。
その他 特殊測定
上記で紹介した標準システムで対応できない要望には、専用の光学系での測定を提案します。弊社が過去培ってきた経験をもとに、最適な測定システムを迅速に提案させていただきます。他社様では対応が難しい測定にも柔軟に対応いたします。遠慮なくご相談ください。
偏光測定システム
偏光を利用し、物質の異方的な変化を測定します。 |
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エリプソメトリ
入射角に依存する反射特性の変化を測定します。 |
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| 斜入射イメージング 垂直入射では検出が難しい欠陥の検査を行います。 |
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テラヘルツ波で測定できるサンプルの条件は、テラヘルツ波を透過することです。テラヘルツ波は半導体、樹脂、ゴム、セラミックなどに対し高い透過性を示すことが知られています。一方、金属、水分に対してはテラヘルツ波が透過しないため測定ができません。サンプルのテラヘルツ波の透過試験は無償で承っております。
また、サイズ10cm×10cm程度のサンプルが測定には適していますが、より大きなサンプル測定も可能です。
詳細はサンプルによって異なりますので、サンプルの素材や厚み、大きさなどを遠慮なくご相談ください。弊社スタッフより詳細を返答いたします。
| 測定可能サンプル |
半導体、樹脂、ゴム、セラミック、紙、木材など |
| 検出対象物 |
空隙、異物、厚みなど |
| 測定が難しいサンプル |
金属製品、金属に覆われている製品、水分が多い製品 |
| サイズ |
10cm×10cm |
| 厚み |
数cm以下（テラヘルツ波の透過性による） |
| 形状 |
平板 |
※上記は目安ですので、詳細に関しましてはご相談ください。
費用は、以下の条件をもとに見積もらせていただきます。
・難易度（検出、計測したい目標物）
・サンプルの数
・サンプルの形状（円筒形状、複雑な凸凹）
一例として、以下の測定で25万円～となります。
| サンプル |
樹脂平板 |
| サイズ |
10cm×10cm |
| 検出対象物 |
気泡・剥離 |
| 個数 |
正常品、異常品 各１個 |
| 納品物 |
考察、今後の展望、画像データなどをまとめた報告書 |
サンプルのテラヘルツ波の透過試験は無償で承っております。お気軽にご相談ください。
お気軽にお問い合わせ下さい。
