取り扱い製品

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TeraMetrix社製 テラヘルツイメージングシステム

簡単に使えて、持ち運びに便利! 産業用テラヘルツイメージングシステム

テラヘルツイメージングシステム

【特長】

・TeraMetrix社の製品をすぐに使用できる形でご提供!

・反射系イメージング、透過系イメージングシステムを標準品としてご用意しております

・ご要望に応じたシステム構築、解析ソフトウェア作成致します

【用途】

・樹脂やセラミック製品などの非破壊検査
・パッケージ内部や梱包済み製品などの非開封検査
・粉体中(薬品・食品など)の異物混入検出
・医薬品・化粧品の研究分野
・工業材料の品質管理
・食品や農産物の品質検査
・皮膚や生体組織の診断
・禁止薬物の検出 など

テラヘルツ技術に定評のある米国TeraMetrix社の製品(テラヘルツ波発生/検出ユニットやコントロールユニット等)を納入後すぐに使用できる形にしてご提供致します。反射系イメージングシステム、透過系イメージングシステム、分光システムを標準品としてご用意しております。また、お客様のご要望に合わせたイメージングシステムの構築や波形解析ソフトウェアの作成、使い方のレクチャーも致します。

TeraMetrix社とは

TeraMetrix社は、20年以上に渡り感度や温度安定性が非常に高く、広波長域の高速光受信機の開発製造に注力しており、世界初の市販テラヘルツ機器を開発し、電磁スペクトルの未踏領域の活用に取り組んでおります。TeraMetrix社の製品は、最先端の技術だけでなく、信頼性とその価値が業界において世界標準として高く評価されています。

【仕様・特性】

標準システム

システム システム概要
反射系高分解能イメージング
(下の詳細説明にリンク) 

●サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルから反射するテラヘルツ波を捉えてイメージング

●測定ヘッドをXY走査機構で縦横に高精度スキャンし、高分解能イメージングが可能。

反射系高速イメージング
(下の詳細説明にリンク)

●サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルから反射するテラヘルツ波を捉えてイメージング

●高速テラヘルツ波スキャナを搭載し、高速でイメージングが可能

透過系イメージング 
(下の詳細説明にリンク)

●サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルを透過したテラヘルツ波を捉えてイメージング

●テラヘルツ波のロスが少なく高感度検出が可能

●測定ヘッドをXY走査機構で縦横にスキャンし、高分解能イメージングが可能

分光THz-TDS 
(下の詳細説明にリンク)

●サンプルを透過したテラヘルツ波を検出し、サンプルの特性を示すテラヘルツ波分光情報を解析。

主要部品

制御ユニット(control unit) 
制御PC(control PC)及び制御ソフトウェア(control software)
テラヘルツ波発生ユニット(Transmitter:Tx)
テラヘルツ波検出ニット(Receiver:Rx)
●イメージング用テラヘルツ波走査機構(Platform, T-scanner)
光/電気ケーブル(Umbilicals)

【アプリケーション】

製造工程における検査システム例 (製品厚みのモニタリング)

製造工程における検査システムの構成例

携帯電話の透視画像とテラヘルツパルスエコー画像

携帯電話の透視画像とテラヘルツパルスエコー画像

現場に対応した産業用検査システムも設計・製造いたします。

【標準システム】

反射系高分解能イメージングシステム

サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルから反射するテラヘルツ波を捉えてイメージングを行うシステム。
測定ヘッド(テラヘルツ波発生ユニット、テラヘルツ波検出ユニット、反射系構築ユニット)をXY走査機構で縦横にスキャンし, 3Dイメージングを可能にする。テラヘルツ波発生レンズに高NAのレンズを用い且つ高精度縦横スキャンを実現することで、高分解能イメージングが可能です。

図 反射系イメージング(高分解能)システム構成

図 反射系イメージング(高分解能)システム構成

特性・仕様

検査方法 テラヘルツパルス光センシング
テラヘルツ発信帯域 >4THz
測定エリアXY 300 mm X 300mm
(標準品による. ご相談下さい.)
測定エリアZ 10 mm ~ 30 mm 程度
XY方向検出分解能 0.3 mm (参考値)
Z方向検出分解能 0.3 mm (参考値)
測定速度 1000 波形 / sec

反射系高速イメージングシステム

サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルから反射するテラヘルツ波を捉えてイメージングを行うシステム。
高速テラヘルツ波スキャナを搭載し、1000 波形/sの高速イメージングを実現します。

図 反射系イメージング(高速)システム構成

図 反射系イメージング(高速)システム構成

特性・仕様

検査方法 テラヘルツパルス光センシング
テラヘルツ発信帯域 >4THz
測定エリアX 70 mm
(標準品による. ご相談下さい.)
測定エリアZ(深さ) 10 mm ~ 30 mm 程度
X方向検出分解能 0.3 mm (参考値)
Z方向検出分解能 0.3 mm (参考値)
測定速度 1000 波形 /sec

透過系イメージングシステム

サンプルにテラヘルツ波を照射し、サンプルを透過したテラヘルツ波を捉えてイメージングを行うシステム. 透過系の構築により、テラヘルツ波のロスが少なく高感度検出が可能です。測定ヘッド (テラヘルツ波発生ユニット、テラヘルツ波検出ユニット) をXY走査機構で縦横にスキャンし、イメージングを実現します。

図 透過系イメージングシステム構成

図 透過系イメージングシステム構成

特性・仕様

検査方法 テラヘルツパルス光センシング
テラヘルツ発信帯域 >4THz
測定エリアXY 300 mm X 300 mm
(標準品による. ご相談下さい.)
XY方向検出分解能 0.3 mm (参考値)
測定速度 1000 波形 / sec

分光イメージングシステム

サンプルを透過したテラヘルツ波を検出し、サンプルの特性を示すテラヘルツ波分光情報を解析。誰でも簡単に高速、高感度な分光データを得ることができます。

図 分光イメージングシステム構成

図 分光イメージングシステム構成

特性・仕様

検査方法 テラヘルツパルス光センシング
テラヘルツ発信帯域 >4THz
測定速度 1000 波形 /sec
サンプリング点数 4096点 / 波形
サンプリング間隔 0.078125 psec
周波数分解能 3.125 * 10-3 THz

ご相談下さい、応用技術相談に対応致します

弊社は、THz波に関連する研究開発や産業応用の実績がございます。お客様のご要望に合わせたイメージングシステムの構築や波形解析ソフトウェアの作成、使い方のレクチャーも致します。
分解能や測定速度もご相談下さい。

【関連製品】

T線異物検査装置

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